从像差校正到超分辨电镜:清华大学于荣教授深度解读电子显微学新前沿

发布时间: 2026-05-03 / 点击数:

北航新闻网5月3日电(通讯员 苗雨晴)4月22日,由北航分析测试中心主办、材料科学与工程学院研究生会协办的“博约仪器论坛”在沙河校区J0-003举行。清华大学于荣教授应邀作题为《从像差校正到超分辨电镜》的专题报告。

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于荣梳理了电子显微学从传统HRTEM到超分辨4D-STEM叠层成像的技术跃迁。他指出,硬件像差校正虽达亚埃级分辨率,但成本高、剂量效率低;而基于软件驱动的超分辨电镜,通过像素化探测器与重构算法,可将分辨率提升至0.5Å以内,兼具高相位精度与超高剂量效率。在技术解析中,于荣从薛定谔方程出发,讲解了散射波函数的传播与恢复机制,并展示了超分辨电镜的典型应用。

讲座最后,于荣分析了超分辨电镜面临的数据量大、重构耗时等挑战,倡导实验与计算协同融合的科研模式,并以“纸上得来终觉浅,绝知此事要躬行”寄语在场学子。问答环节中,他逐一解答了师生关于理论、算法与应用的问题。

(审核:郭洪波)

编辑;贾爱平